Świętokrzyski Kampus Laboratoryjny Głównego Urzędu Miar
Laboratorium Długości
Laboratorium poprowadzi prace badawczo-rozwojowe obejmujące precyzyjne pomiary w trzech osiach dużych obiektów, zarówno w aspekcie pomiarów wykonywanych przy zastosowaniu maszyn współrzędnościowych, jak również laser trackerów, pomiary w zakresie nanometrologii – wzorce nanometryczne, pomiary kąta płaskiego w zakresie nanoradianów oraz analizę nanostruktur powierzchni. Ponadto Laboratorium będzie realizowało prace w zakresie różnych geodezyjnych technik pomiarowych, pomiarów dużych odległości z kompensacją warunków środowiskowych, optycznych pomiarów elementów wielkogabarytowych za pomocą skanera światła strukturalnego, pomiarów odchyłek kształtu elementów obrotowych (okrągłość, walcowość, prostoliniowość, płaskość) oraz wzorowanie wzorców chropowatości powierzchni, okrągłości oraz wzorca prostoliniowości w postaci walca.
W obrębie laboratorium powstają:
- Stanowisko certyfikowania i kompleksowej komparacji pomiarowych urządzeń geodezyjnych – na stanowisku prowadzone będą prace z zakresu certyfikowania i kompleksowej komparacji pomiarowej urządzeń geodezyjnych oraz wzorcowania kąta i długości dla skanerów laserowych, teodolitów, tachimetrów elektronicznych, wzorcowania niwelatorów i łat niwelacyjnych. Stanowisko wyposażone zostanie w interferometr laserowy, który posłuży do przeprowadzania pomiarów liniowości, [...]



